以下關(guān)于測(cè)試的敘述中，正確的是（ ）。
A、實(shí)際上，可以采用窮舉測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)軟件中的所有錯(cuò)誤
B、錯(cuò)誤很多的程序段在修改后錯(cuò)誤一般會(huì)非常少
C、測(cè)試可以用來(lái)證明軟件沒(méi)有錯(cuò)誤
D、白盒測(cè)試技術(shù)中，路徑覆蓋法往往能比語(yǔ)句覆蓋法發(fā)現(xiàn)更多的錯(cuò)誤